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辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究
其他题名Study on Nano-meter Scale Observation of Latent Tracks Induced by Ions
翟鹏济; 唐孝威
2002
发表期刊原子能科学技术
期号6页码:564-568
通讯作者翟鹏济
其他摘要综述了近年来用扫描隧道显微镜 (STM )和扫描力显微镜 (SFM)在原子水平上观测辐射损伤潜径迹的研究及进展。详述了辐射损伤潜径迹的形貌、损伤范围、损伤数密度、损伤几率等 ,对损伤潜径迹直径与能损的关系、损伤过程及各种可能的损伤机制进行了分析和讨论。
关键词扫描隧道显微镜 扫描力显微镜 辐射损伤潜径迹 损伤参数 损伤机制
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221975
专题多学科研究中心
粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
翟鹏济,唐孝威. 辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究[J]. 原子能科学技术,2002(6):564-568.
APA 翟鹏济,&唐孝威.(2002).辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究.原子能科学技术(6),564-568.
MLA 翟鹏济,et al."辐射损伤潜径迹的纳米尺度观测研究".原子能科学技术 .6(2002):564-568.
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