寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析
范东宇; 冯松林; 冯向前; 雷勇; 徐清; 张颖; 黄宇营; 何伟; 权奎山; 沈岳明
刊名核技术
2002
期号10页码:833-836
关键词越窑青瓷 同步辐射X荧光分析 统计分析
其他题名Study of yue kiln ancient celadon by SRXRF and statistic analysis
通讯作者范东宇
中文摘要本文采用同步辐射X荧光对浙江寺龙口越窑的 80块古瓷样品进行了分析 ,样品中V、Ni、Zn和Mn具有一定的年代变化规律性。实验数据的统计分析结果表明 ,越窑古瓷中元素含量具有一定的年代和产地特征 ,SRXRF与中子活化实验的统计分析结果相符合
项目资助者中国科学院知识创新工程 (KJCX -No .4 ) ; 国家自然科学基金 (10 0 75 0 6 0、10 135 0 5 0 ) ; BSRF资助项目
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221931
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
范东宇,冯松林,冯向前,等. 寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析[J]. 核技术,2002(10):833-836.
APA 范东宇.,冯松林.,冯向前.,雷勇.,徐清.,...&沈岳明.(2002).寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析.核技术(10),833-836.
MLA 范东宇,et al."寺龙口青瓷的SRXRF研究与统计分析".核技术 .10(2002):833-836.
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