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HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究
其他题名Investigation of the Electronics No nlinearity in a HPGe γ Spectrometer
张天保; 彭良强; 陈红民; 魏龙; 孟伯年
1999
发表期刊核电子学与探测技术
期号4页码:241-
通讯作者张天保
其他摘要用产生器脉冲和探测器脉冲两种方法相互核对测试了Ortec公司一套HPGeγ谱仪电子学各部件的非线性偏离曲线,测量精度到3×10-6水平,研究了它们对谱仪整个系统非线性的贡献。
关键词非线性 HPGeγ谱仪
项目资助者国家自然科学基金,中国科学院九五”基金
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221709
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
张天保,彭良强,陈红民,等. HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究[J]. 核电子学与探测技术,1999(4):241-.
APA 张天保,彭良强,陈红民,魏龙,&孟伯年.(1999).HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究.核电子学与探测技术(4),241-.
MLA 张天保,et al."HPGeγ谱仪电子学非线性的测量和研究".核电子学与探测技术 .4(1999):241-.
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