IHEP OpenIR  > 多学科研究中心
正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示
其他题名CORRECT EXPRESSION OF ANALYTICAL RESULTS OF POSITRON ANNIHILATION LIFETIME SPECTRA
郭应焕; 杨巨华
1998
发表期刊核技术
期号10页码:590-592
通讯作者郭应焕
其他摘要正电子湮没寿命的多寿命成分分析结果通常给出各成分的寿命τi及其零时相对湮没强度Ii(O).指出用零时相对或绝对湮没强度讨论分析结果并不合理,只有正电子在各湮没态上的零时相对占有数Ni(O)=τiIi(O)或占有率ni(O)=Ni(O)/∑Ni(O)才有明确的物理意义,因为正电子在态上的几率密度ni(O)与正电子湮没环境介质的结构特性密切相关.并以二态捕获模型为例对上述论点作了证明.
关键词正电子湮没 强度 寿命 几率密度
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221648
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
郭应焕,杨巨华. 正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示[J]. 核技术,1998(10):590-592.
APA 郭应焕,&杨巨华.(1998).正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示.核技术(10),590-592.
MLA 郭应焕,et al."正电子湮没寿命谱分析结果的正确表示".核技术 .10(1998):590-592.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
3691.pdf(179KB)期刊论文作者接受稿限制开放CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[郭应焕]的文章
[杨巨华]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[郭应焕]的文章
[杨巨华]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[郭应焕]的文章
[杨巨华]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。