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Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索
其他题名CHEMICAL SHIFTS OF CrKβ PEAKS IN XRF SPECTRA BY Si ( Li) SPECTROMETRY
彭良强; 魏成连; 刘亚雯; 张天保; 吴强
1998
发表期刊光谱学与光谱分析
期号1页码:98-100
通讯作者彭良强
其他摘要采用放射源241Am59.6keVγ射线分别激发金属Cr、Cr2O3和K2CrO4,用Si(Li)谱仪比较测量其Kx射线的能量。实验表明K2CrO4中CrKβ能峰相对于金属Cr有2.12±0.27eV的位移。
关键词化学位移 X射线荧光 Si(Li)谱仪
项目资助者科学院八五”重点项目,核分析技术开放实验室资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221629
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
彭良强,魏成连,刘亚雯,等. Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索[J]. 光谱学与光谱分析,1998(1):98-100.
APA 彭良强,魏成连,刘亚雯,张天保,&吴强.(1998).Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索.光谱学与光谱分析(1),98-100.
MLA 彭良强,et al."Si(Li)谱仪测量X射线荧光谱中CrK_β谱线化学位移的探索".光谱学与光谱分析 .1(1998):98-100.
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