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非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征
其他题名THE POSITRON LIFETIME IN AMORPHOUS NiCrFeSiB ALLOY AFTER HYDROGEN CHARGING
黄卫东; 左禹; 魏龙; 王文华
1998
发表期刊腐蚀科学与防护技术
期号1页码:3
其他摘要测量了非晶态NiCrFeSiB合金电化学渗氢前后的正电子寿命谱,探索氢与非晶态结构中的空位型缺陷的相互作用.合金中主要存在自由体积和空位团两种类型的缺陷,低电流渗氢对缺陷结构无明显影响,高电流渗氢导致空位团型缺陷浓度升高,但不稳定,当氢逸出后又会分解,合金结构恢复到稳定状态.
关键词非晶态合金 正电子寿命
项目资助者国家自然科学基金,中国科学院核分析技术开放实验室资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221613
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
黄卫东,左禹,魏龙,等. 非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征[J]. 腐蚀科学与防护技术,1998(1):3.
APA 黄卫东,左禹,魏龙,&王文华.(1998).非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征.腐蚀科学与防护技术(1),3.
MLA 黄卫东,et al."非晶态镍合金渗氢后的正电子寿命谱特征".腐蚀科学与防护技术 .1(1998):3.
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