软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计
崔聪悟; 崔明启
刊名核电子学与探测技术
1997
期号5页码:358-
关键词软X射线绝对光强测量 电离室
其他题名The Design of a Measuring System for Soft X Ray Absolute Intensity
通讯作者崔聪悟
中文摘要本文介绍软X射线绝对光强测量系统的物理设计,测量的能区为50~2000eV。
项目资助者国家自然科学基金
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221552
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
崔聪悟,崔明启. 软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计[J]. 核电子学与探测技术,1997(5):358-.
APA 崔聪悟,&崔明启.(1997).软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计.核电子学与探测技术(5),358-.
MLA 崔聪悟,et al."软 X 射线绝对光强测量系统的物理设计".核电子学与探测技术 .5(1997):358-.
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