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光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱
胡天斗; 谢亚宁; 乔山; 海洋; 靳亚兰
1994
发表期刊科学通报
期号11页码:977-979
通讯作者胡天斗
其他摘要EXAFS(Extended X-ray absorption fine structure)能提供反映原子近邻配位的多种有用的结构信息,近年来已广泛应于固体、液体、催化剂、生物、表面等结构问题的研究.EXAFS实验方法除常用的透射法、荧光法之外,还出现了AEY(Auger electron yield)、TEY(Total electronyield)等等新的测试方法.Sham等测试了溶液的光电导,得到了类EXAFS的振荡.
关键词EXAFS 光电导 GaAs
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221348
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
胡天斗,谢亚宁,乔山,等. 光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱[J]. 科学通报,1994(11):977-979.
APA 胡天斗,谢亚宁,乔山,海洋,&靳亚兰.(1994).光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱.科学通报(11),977-979.
MLA 胡天斗,et al."光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱".科学通报 .11(1994):977-979.
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