掠入射、全反射及其在X射线荧光分析中的应用
刘亚雯
刊名物理
1993
期号10页码:614-618
关键词射线荧光分析 掠入射 反射技术 杂质分析 微量元素分析 反射体 表面分析 检测限 入射角度 及超
通讯作者刘亚雯
中文摘要掠入射、全反射技术应用于化学的微量及超微量元素分析和表面分析,给X射线荧光分析技术带来了突破性的发展.目前,利用全反射X荧光分析技术对微量元素进行分析,其检测限已达到pg级,硅片表层杂质分析的检测限达到109个原子/cm2.文章介绍了该技术的基本理论和特点、近年来国内外发展情况及应用的例子.
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221301
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘亚雯. 掠入射、全反射及其在X射线荧光分析中的应用[J]. 物理,1993(10):614-618.
APA 刘亚雯.(1993).掠入射、全反射及其在X射线荧光分析中的应用.物理(10),614-618.
MLA 刘亚雯."掠入射、全反射及其在X射线荧光分析中的应用".物理 .10(1993):614-618.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
2644.pdf(345KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[刘亚雯]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[刘亚雯]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[刘亚雯]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 2644.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。