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同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究
其他题名USE OF GELOLGICAL STANDARD REFERENCE MATERIALS IN SYNCHROTRON RADIATION X-RAY FLUORESCENCE MICROPROBE TECHNIQUE
安庆骧; 詹秀春; 巢志瑜; 吴应荣
1992
发表期刊岩矿测试
期号3页码:252-255+259
其他摘要将国家级标样GSR-1至GSR-7研磨至颗粒度<2μm,在大气光路中以光斑尺寸为100μm×l00μm的同步辐射X射线(白光)激发,si(Li)半导体探测器采集荧光信号。研究了这些岩石标样中元素(K、Ca、Ti、Mn、Fe、Zn、Rb、sr、Zr)的X射线荧光强度平均值的相对标准偏差与取样量(点数或面积)的关系,测算了使用这套国家岩石标准样的取样量(点数或面积),并确定了实用的测量方法。为同步辐射X射线荧光微探针扫描技术提供一套(7个)适用的岩石标准样。
关键词同步辐射X荧光微探针 岩石标准样品
项目资助者国家自然科学基金资助项目。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221259
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
安庆骧,詹秀春,巢志瑜,等. 同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究[J]. 岩矿测试,1992(3):252-255+259.
APA 安庆骧,詹秀春,巢志瑜,&吴应荣.(1992).同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究.岩矿测试(3),252-255+259.
MLA 安庆骧,et al."同步辐射X射线荧光微探针技术中地质标样的研究".岩矿测试 .3(1992):252-255+259.
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