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纳克级全反射X射线荧光分析
其他题名TOTAL-REFLECTION X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRIC DETERMINATION OF ELEMENTS IN NANOGRAM AMOUNTS
范钦敏; 刘亚雯; 李道伦; 魏成连; 胡金生
1990
发表期刊光谱学与光谱分析
期号6页码:64-67+58
通讯作者范钦敏
其他摘要本文报道了由高能物理所自行研制的全反射X射线荧光分析装置,在X射线荧光分析中,应用这个装置,将使入射X射线束产生的散射本底大大降低,从而显著地改善了X射线荧光分析的检测限与灵敏度。在初始束路程上,由于能量切割反射体的应用,使初始谱的低能部分本底也明显下降。文中还给出了全反射条件下六种元素的检测限。
关键词射线荧光分析 反射体 射线束 纳克 检测限 射线管 反射技术 文中 射角 线谱
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221122
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
范钦敏,刘亚雯,李道伦,等. 纳克级全反射X射线荧光分析[J]. 光谱学与光谱分析,1990(6):64-67+58.
APA 范钦敏,刘亚雯,李道伦,魏成连,&胡金生.(1990).纳克级全反射X射线荧光分析.光谱学与光谱分析(6),64-67+58.
MLA 范钦敏,et al."纳克级全反射X射线荧光分析".光谱学与光谱分析 .6(1990):64-67+58.
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