大角度晶界的正电子湮没研究
周先意; 蒋惠林; 王淑英; 姜健; 龙期威
刊名核技术
1989
期号11页码:638-642
关键词晶界 正电子寿命 饱和捕获
其他题名A POSITRON ANNIHILATION STUDY ON LARGE ANGLE GRAIN BOUNDARIES
中文摘要从两态捕获模型出发,导出了正电子平均寿命与晶粒大小之间的关系,并且预言了晶界正电子饱和捕获效应的存在。在实验上,通过对Zn-22wt%Al合金大角度晶界正电子捕获效应的观察,验证了上述关系,并对大角度晶界正电子捕获效应的一般情况予以讨论。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221091
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
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GB/T 7714
周先意,蒋惠林,王淑英,等. 大角度晶界的正电子湮没研究[J]. 核技术,1989(11):638-642.
APA 周先意,蒋惠林,王淑英,姜健,&龙期威.(1989).大角度晶界的正电子湮没研究.核技术(11),638-642.
MLA 周先意,et al."大角度晶界的正电子湮没研究".核技术 .11(1989):638-642.
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