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无标样厚靶PIXE分析中数值方法的应用
其他题名THE NUMERICAL CALCULATION USED IN THICK TARGET PXE ANALYSES
范钦敏; 钟溟
1988
发表期刊高能物理与核物理
期号1页码:6--11
通讯作者范钦敏
其他摘要本文用数值方法对厚靶PIXE分析中所测得的特征K-X射线强度进行修正,修正包括入射质子在靶中的慢化,特征X射线在厚样中的吸收以及基体元素的特征X射线引发的待测元素X射线的增强等。同时,为了进行无标样分析,同蒙特卡罗方法对整个分析系统作了效率刻度。在此基础上,对一些自制的标准厚样进行了PIXE实验分析,分析结果与已知值有较好的符合。
关键词厚靶 PIXE 基体元素 待测元素 射线强度 基体效应 次级电子 质子束 数值方法 荧光产额
项目资助者中国科学院科学基金
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/221033
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
范钦敏,钟溟. 无标样厚靶PIXE分析中数值方法的应用[J]. 高能物理与核物理,1988(1):6--11.
APA 范钦敏,&钟溟.(1988).无标样厚靶PIXE分析中数值方法的应用.高能物理与核物理(1),6--11.
MLA 范钦敏,et al."无标样厚靶PIXE分析中数值方法的应用".高能物理与核物理 .1(1988):6--11.
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