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用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数
其他题名DETERMINATION OF THE AVERAGE ATOMIC NUMBER BY X-RAY SCATTERING INTENSITY
范钦敏; 李道伦
1987
发表期刊分析测试通报
期号1页码:25-27
通讯作者范钦敏
其他摘要在X射线荧光分析中,如果待测样品是一个较为复杂的未知体系,则在考虑样品对X射线的基体效应时,需要确定样品的原子序数。一些作者用实验方法测定了等效弹性散射和非弹性散射强度与原子序数的关系曲线,由此可以定出等效原子序数。
关键词X射线 散射强度 非弹性散射 射线荧光分析 基体效应 权因子 转动角 实验方法 蒙特卡罗模拟 光电吸收系数
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220979
专题多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
范钦敏,李道伦. 用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数[J]. 分析测试通报,1987(1):25-27.
APA 范钦敏,&李道伦.(1987).用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数.分析测试通报(1),25-27.
MLA 范钦敏,et al."用X射线的散射强度确定样品的等效原子序数".分析测试通报 .1(1987):25-27.
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