溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响
翟鹏济; 康铁笙
刊名核技术
1985
期号4页码:8--9
关键词溶胀 体蚀刻速度 聚碳酸酯 核径迹探测器
其他题名THE EFFECT OF SWELLING ON THE DETERMINATION OF BULK ETCHING RATE BY FISSION FRAGMENT TRACK DIAMETER
通讯作者翟鹏济
中文摘要对于聚碳酸酯,在某些条件下由α径迹直径法得到的体蚀刻速度V_B比厚度法大。本文对这一差异的原因进行了探讨,实验方法及结果如下: 所用探测器材料是Lexan、朝阳1号和Makrofol-E三种聚碳酸酯。这些膜两面蚀刻性质相同,故采用双面蚀刻法。用各蚀刻时间t时的~(252)Cf裂片径迹直径φ与膜的厚差2V_Bt作图。所用蚀刻剂是6.25N NaOH、6.25N KOH、6.25N NaOH+0.05%烷基苯磺酸钠以及
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220866
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
翟鹏济,康铁笙. 溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响[J]. 核技术,1985(4):8--9.
APA 翟鹏济,&康铁笙.(1985).溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响.核技术(4),8--9.
MLA 翟鹏济,et al."溶胀作用对裂片径迹直径法测体蚀刻速度的影响".核技术 .4(1985):8--9.
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