用样条函数拟配Ge(Li)γ谱仪效率曲线方法
刘承安; 汤乃勋; 冯锡璋
刊名核技术
1984
期号6页码:21-26+65
关键词曲线拟合 效率刻度 γ谱 样条函数 逐步回归 极小信息理论准则
其他题名FITTING EFFICIENCY CURVE OF GAMMA-RAY SPECTROMETRIC INSTRUMENT BY SPLINE
中文摘要本文采用三阶样条函数作为Ge(Li)γ谱仪效率曲线模型,使用并改进了逐步回归算法,利用AIC检验等手段对模型加以优化,解决了分点数量、最佳分点位置及分点处的连续性等问题。所得模型具有参数少、精度高等优点。 利用本方法对本实验室所用185cm~3同轴Ge(Li)探测器进行效率刻度,在59~1408keV范围内,所得模型都只含3个参数,精度为2.5%左右。利用刻度好的系统标定~(152)Eu的发射率,与国际比对值相比,偏差≤3%。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220804
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘承安,汤乃勋,冯锡璋. 用样条函数拟配Ge(Li)γ谱仪效率曲线方法[J]. 核技术,1984(6):21-26+65.
APA 刘承安,汤乃勋,&冯锡璋.(1984).用样条函数拟配Ge(Li)γ谱仪效率曲线方法.核技术(6),21-26+65.
MLA 刘承安,et al."用样条函数拟配Ge(Li)γ谱仪效率曲线方法".核技术 .6(1984):21-26+65.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
954.pdf(376KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[刘承安]的文章
[汤乃勋]的文章
[冯锡璋]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[刘承安]的文章
[汤乃勋]的文章
[冯锡璋]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[刘承安]的文章
[汤乃勋]的文章
[冯锡璋]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 954.pdf
格式: Adobe PDF
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。