古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用
刘亚文; 范钦敏; 李道伦; 韩俊英
刊名分析测试通报
1984
期号4页码:59-63
关键词蒙特卡罗法 X射线荧光分析 参数法 随机过程 校正因子 统计试验 统计过程 特征线 蒙特卡罗方法 概率分布函数
通讯作者刘亚文
中文摘要本文介绍在X射线荧光分析中,用基本参数法和蒙特卡罗法(Monte Carlo)进行古文物样品的分析。分析中我们用蒙特卡罗法计算了样品对入射线的散射校正因子以及探测器对特征X射线的相对探测效率。蒙特卡罗法是模拟随机过程的一种统计试验方法,其统计过程是通过随机事件的概率分布函数的随机抽样来实现。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220776
专题中国科学院高能物理研究所_多学科研究中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
刘亚文,范钦敏,李道伦,等. 古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用[J]. 分析测试通报,1984(4):59-63.
APA 刘亚文,范钦敏,李道伦,&韩俊英.(1984).古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用.分析测试通报(4),59-63.
MLA 刘亚文,et al."古代铜器X射线荧光分析中基本参数法及蒙特卡罗法的应用".分析测试通报 .4(1984):59-63.
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