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正电子寿命谱数据处理可靠性的验算
其他题名A CHECK ON THE RELIABILITY IN THE DATA PROCESSING OF A POSITRON LIFETIME SPECTRUM
王蕴玉; 薛嘉渔
1983
发表期刊核技术
期号2页码:25-27+74
通讯作者王蕴玉
其他摘要我们用S.J.Tao提出的最小二乘法拟合多指数曲线的计算方法来分解实验测得的正电子湮没寿命谱。由于测试仪器有一定的分辨率,因而实际测到的计数F_i(t)与真实的强度N_i(t)之间有差异。这种差异在寿命谱的起始部分表现得十分强烈(见图1)。 在我们的实验中,仪器分辨率为260ps,道宽为43.5ps,一般从t~330ps以后,按2或3组分拟合分解寿命谱。在不使用去卷积”方法扣除分辨函数的影响时,舍去起始的7~8个实验点。
关键词去卷积 最小二乘法拟合 仪器分辨率 正电子湮没 测试仪器 实验点 道宽 指数曲线 指数衰减 计算方法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220743
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
王蕴玉,薛嘉渔. 正电子寿命谱数据处理可靠性的验算[J]. 核技术,1983(2):25-27+74.
APA 王蕴玉,&薛嘉渔.(1983).正电子寿命谱数据处理可靠性的验算.核技术(2),25-27+74.
MLA 王蕴玉,et al."正电子寿命谱数据处理可靠性的验算".核技术 .2(1983):25-27+74.
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