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X射线荧光分析中基本参数法的应用
刘亚文; 范钦敏; 马淑兰; 李道伦; 韩俊英; 颜蓓华
1982
发表期刊核技术
期号4页码:113-114
通讯作者刘亚文
其他摘要采用基本参数法校正基体效应,需作如下假设:样品均匀、无限厚且表面光滑。 本工作依据的公式是文献[1]的(9)式。计算中使用了相对强度,采用的迭代公式是文献[2]的(A-3)式。 首先测量标准样品和未知样品中被分析元素的某一特征X射线强度,使用相对强度和标准样品中该元素的浓度值,代入μ、ω、J等基本参数和初级激发谱分布数据,利用上述公式,用迭代法”计算出未知样
关键词参数法 X射线荧光分析 标准样品 工作依据 相对强度 激发谱 基体效应 分析元素 迭代法 浓度值
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220676
专题多学科研究中心
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GB/T 7714
刘亚文,范钦敏,马淑兰,等. X射线荧光分析中基本参数法的应用[J]. 核技术,1982(4):113-114.
APA 刘亚文,范钦敏,马淑兰,李道伦,韩俊英,&颜蓓华.(1982).X射线荧光分析中基本参数法的应用.核技术(4),113-114.
MLA 刘亚文,et al."X射线荧光分析中基本参数法的应用".核技术 .4(1982):113-114.
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