用于流光室性能试验的控制电路
徐雨林; 陈元柏; 王殿荣
刊名核电子学与探测技术
1982
期号5页码:45-46
关键词流光室 控制电路 性能试验 电路工作 成形电路 带电粒子 双稳态电路 电耦合 高翠山 信号触发
其他题名A LOGICAL CONTROL CIRCUIT FOR THE [ERFORMANCE TEST OF THE STREAMER CHAMBER
通讯作者徐雨林
中文摘要我们为流光室设计了一套控制电路,经几年运行表明,该电路工作正常、稳定可靠。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220372
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
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GB/T 7714
徐雨林,陈元柏,王殿荣. 用于流光室性能试验的控制电路[J]. 核电子学与探测技术,1982(5):45-46.
APA 徐雨林,陈元柏,&王殿荣.(1982).用于流光室性能试验的控制电路.核电子学与探测技术(5),45-46.
MLA 徐雨林,et al."用于流光室性能试验的控制电路".核电子学与探测技术 .5(1982):45-46.
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