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小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关
其他题名Dependence of ageing rate on the radiation intensity in accelerated ageing test of the small cell drif t chamber
沈洪涛; 陈昌; 陈元柏; 朱启明; 金艳; 刘荣光; 马骁妍; 王岚; 阮向东; 王祥高; 徐美杭
2007
发表期刊核电子学与探测技术
期号2页码:359-362+375
通讯作者沈洪涛
其他摘要在小单元漂移室多次模拟老化实验中,观察到测量所得的老化率与辐照放射源强度的相关,讨论了产生此种相关的可能原因。
关键词小单元漂移室 放射源强度 老化率 阳极丝电流 光电峰位
项目资助者得到北京正负电子对撞机重大改造工程的支持
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/220271
专题实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
沈洪涛,陈昌,陈元柏,等. 小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):359-362+375.
APA 沈洪涛.,陈昌.,陈元柏.,朱启明.,金艳.,...&徐美杭.(2007).小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关.核电子学与探测技术(2),359-362+375.
MLA 沈洪涛,et al."小单元漂移室模拟老化实验中老化率与放射源强度的相关".核电子学与探测技术 .2(2007):359-362+375.
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