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基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试
其他题名The Text of Electronics Based VME Used for MWPC
徐品; 陈元柏; 赵书俊; 王小胡; 赵豫斌; 章红宇
2010
发表期刊核电子学与探测技术
期号4页码:480-483
其他摘要利用多丝正比室对基于VME机箱读出电子学及数据获取系统进行调试,调试过程中对电子学系统的一些参数进行了合理的设置,同时对电子学的性能进行了测试,使得电子学系统的设置符合多丝正比室探测器的要求,以提高探测器的性能。同时对两种不同的数据处理方法进行了比较,测得多丝正比室的沿着阳极丝方向的位置分辨约为0.2~0.3 mm。
关键词X射线 阈值 位置分辨高斯法
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219997
专题实验物理中心
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GB/T 7714
徐品,陈元柏,赵书俊,等. 基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试[J]. 核电子学与探测技术,2010(4):480-483.
APA 徐品,陈元柏,赵书俊,王小胡,赵豫斌,&章红宇.(2010).基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试.核电子学与探测技术(4),480-483.
MLA 徐品,et al."基于VME机箱多丝正比室电子学性能测试".核电子学与探测技术 .4(2010):480-483.
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