基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法
王科; 刘振安; 赵棣新; 过雅南; 徐昊; 阴泽杰
刊名电子测量技术
2004
期号2页码:5--6
关键词误码率 先进先出寄存器 伪随机码 线性反馈移位寄存器
其他题名BER TESTING BY SOFTWARE AND HARDWARE AND HARDWARE BASED ON FIFOS IN FPGA
中文摘要文中介绍用 FPGA中 FIFO的误码率软件和硬件测试方法,简介数据比较程序;说明硬件测试中伪随机码序列特点和生成原理,并对比较时如何使数据对应做出讨论。最后列出测试结果,比较这两种方法的优缺点。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219969
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
王科,刘振安,赵棣新,等. 基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法[J]. 电子测量技术,2004(2):5--6.
APA 王科,刘振安,赵棣新,过雅南,徐昊,&阴泽杰.(2004).基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法.电子测量技术(2),5--6.
MLA 王科,et al."基于FPGA中FIFO误码率软硬件测试方法".电子测量技术 .2(2004):5--6.
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