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国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究
其他题名STUDY ON RADIATION DAMAGE OF DOMESTIC HIGH-Z SCINTILLATION CRYSTALS
陈宇; 顾以藩
1993
发表期刊核电子学与探测技术
期号1页码:12--18
通讯作者陈宇
其他摘要建立了两套测量准确度分别达到0.5%及1%的测量系统。考察了国产BGO、CsI(Tl)、CsI(Na)和BaF_2晶体在5kGy吸收剂量下的辐照损伤效应。测量显示出两种不同掺杂的CsI晶体显著不同的辐照损伤及其自然恢复性能。发现辐照后BaF_2晶体存在逐渐衰减的强噪声,并且经天然光或日光灯光再照射后强噪声重新出现的新奇现象。
关键词闪烁晶体 辐照损伤 噪声 自然恢复
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219931
专题实验物理中心
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GB/T 7714
陈宇,顾以藩. 国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究[J]. 核电子学与探测技术,1993(1):12--18.
APA 陈宇,&顾以藩.(1993).国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究.核电子学与探测技术(1),12--18.
MLA 陈宇,et al."国产高Z闪烁晶体辐照损伤研究".核电子学与探测技术 .1(1993):12--18.
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