北京谱仪电子学系统性能的标定
唐素秋; 于传松; 赵京伟; 聂振东; 褚以人; 石力
刊名核电子学与探测技术
1991
期号4页码:208-213
关键词北京谱仪 电子学 计算机
其他题名THE CALIBRATION OF PERFORMANCES OF BES ELECTRONICS
通讯作者唐素秋
中文摘要北京谱仪是北京正负电子对撞机的物理实验装置,用于探测正负电子对撞瞬间产生的终态粒子。北京谱仪电子学系统是该谱仪的重要部分,担负探测信号的放大、成形及变换。为了确保和验证电子学系统的可靠性,建立了计算机校准系统。本文主要介绍校准系统的硬件配置、功能及其程序构成。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219675
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_实验物理中心
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GB/T 7714
唐素秋,于传松,赵京伟,等. 北京谱仪电子学系统性能的标定[J]. 核电子学与探测技术,1991(4):208-213.
APA 唐素秋,于传松,赵京伟,聂振东,褚以人,&石力.(1991).北京谱仪电子学系统性能的标定.核电子学与探测技术(4),208-213.
MLA 唐素秋,et al."北京谱仪电子学系统性能的标定".核电子学与探测技术 .4(1991):208-213.
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