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GDB-50型光电倍增管几个特性的测试
郑志鹏; 杨春敏; 荣刚; 尤铁健
1981
发表期刊核电子学与探测技术
期号2页码:48-49
通讯作者郑志鹏
其他摘要我们用粒子辐照法测量了北京综合仪器厂生产的GDB—50型光电倍增管的脉冲幅度-电压曲线、信号噪声比和脉冲上升时间等特性,并和PHILIPS公司生产的XP-2230B型光电倍增管进行了比较,除噪声大一倍外,其余特性两者均相似,能满足一般高能物理实验的需要。若能进一步降低噪声水平,就可以满足弱信号的探测。
关键词GDB-50 脉冲上升时间 脉冲幅度 信号噪声 高能物理实验 电压曲线 噪声比 闪烁体 噪声水平 输出脉冲
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219367
专题实验物理中心
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GB/T 7714
郑志鹏,杨春敏,荣刚,等. GDB-50型光电倍增管几个特性的测试[J]. 核电子学与探测技术,1981(2):48-49.
APA 郑志鹏,杨春敏,荣刚,&尤铁健.(1981).GDB-50型光电倍增管几个特性的测试.核电子学与探测技术(2),48-49.
MLA 郑志鹏,et al."GDB-50型光电倍增管几个特性的测试".核电子学与探测技术 .2(1981):48-49.
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