e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用
荣刚; 马基茂; 毛慧顺; 王泰杰; 白景芝; 李卫国
刊名高能物理与核物理
1993
期号10页码:865-872
关键词重轻子 北京谱仪 dE/dx 电磁簇射 簇射计数器 离线处理 强子 漂移室 半轻子衰变 质量测量
其他题名APPLICATION OF dE/dx METHOD FOR e/π IDENTIFICATION TO THE MEASUREMENT OF THE MASS OF
通讯作者荣刚
中文摘要本文介绍了北京谱仪(BES)主漂移室(MDC)e/π识别的dE/dx方法在τ重轻子质量测量中的应用。该方法的应用使得对τ~+τ~-衰变产生的"eμ"事例的标记效率,比仅用传统的电磁簇射信息标记时提高了3倍以上。效率的提高不仅减少了事例丢失,还使得为找到同样多的τ~+τ~-事例所需要的谱仪和对撞机运动时间和数据离线处理所用的计算机CPU时间均减少了~75%。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219337
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
荣刚,马基茂,毛慧顺,等. e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用[J]. 高能物理与核物理,1993(10):865-872.
APA 荣刚,马基茂,毛慧顺,王泰杰,白景芝,&李卫国.(1993).e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用.高能物理与核物理(10),865-872.
MLA 荣刚,et al."e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用".高能物理与核物理 .10(1993):865-872.
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