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BESIII漂移室电子学时间测量电路的性能测试
其他题名The performance testing of timing measurement of BESIII MDC electronics
赵豫斌; 章红宇; 盛华义
2007
发表期刊核电子学与探测技术
期号2页码:240-242
通讯作者赵豫斌
其他摘要阐述了BESⅢ漂移室电子学中时间测量电路的主要性能指标:时间分辨、微分非线性及积分非线性的测试方法及测试结果。
关键词时间分辨 微分非线性 积分非线性
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219214
专题实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
赵豫斌,章红宇,盛华义. BESIII漂移室电子学时间测量电路的性能测试[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):240-242.
APA 赵豫斌,章红宇,&盛华义.(2007).BESIII漂移室电子学时间测量电路的性能测试.核电子学与探测技术(2),240-242.
MLA 赵豫斌,et al."BESIII漂移室电子学时间测量电路的性能测试".核电子学与探测技术 .2(2007):240-242.
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