BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试
吴金杰; 衡月昆; 刘树彬; 郭建华; 封常青; 安琪; 孙志嘉; 赵玉达
刊名核技术
2008
期号1页码:5--9
关键词北京谱仪 飞行时间探测器 电子学 时间性能 幅度性能
其他题名PERFORMANCE TEST OF BESIII ELECTRONICS BY PMT SIGNAL
中文摘要讨论了北京谱仪(BESⅢ)飞行时间探测器(TOF)前端电子学的物理需求。因光电倍增管信号为前端电子学实际使用,而以光电倍增管信号作为信号源测试电子学性能是一种方便易行的方法,所以本文采用光电倍增管信号作为信号源测试电子学的性能。测试结果表明现行设计的电子学性能已达到BESⅢ飞行时间探测器对电子学的预期目标。
项目资助者北京正负电子对撞机重大改造工程项目 ; 中国科学院知识创新基金(U-602和U-34)资助
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219200
专题中国科学院高能物理研究所_实验物理中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
吴金杰,衡月昆,刘树彬,等. BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试[J]. 核技术,2008(1):5--9.
APA 吴金杰.,衡月昆.,刘树彬.,郭建华.,封常青.,...&赵玉达.(2008).BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试.核技术(1),5--9.
MLA 吴金杰,et al."BESIII飞行时间探测器电子学中的光电倍增管测试".核技术 .1(2008):5--9.
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