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BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试
其他题名Beam Test of the Time Resolution of the BESIII Endcap TOF
安少辉; 吴冲; 李昕; 陈宏芳; 衡月昆; 孙志嘉; 王贻芳; 李澄
2005
发表期刊高能物理与核物理
期号8页码:775-780
其他摘要使用800MeV的电子束对BESⅢ端盖飞行时间探测器(TOF)模块的性能进行测试.研究了塑料闪烁体的包装材料、光电倍增管(PMT)的工作电压、电子束入射位置对单个TOF模块的本征时间分辨的影响,并给出了测量时间与信号幅度和粒子击中位置的修正方法.实验结果显示使用Tyvek纸包装,闪烁体在安装PMT的一端有45°斜面,电子击中在TOF模块不同位置其本征时间分辨在70—90ps范围内.
关键词BESⅢ 飞行时间谱仪(TOF) 本征时间分辨 束流测试
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219195
专题实验物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
安少辉,吴冲,李昕,等. BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试[J]. 高能物理与核物理,2005(8):775-780.
APA 安少辉.,吴冲.,李昕.,陈宏芳.,衡月昆.,...&李澄.(2005).BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试.高能物理与核物理(8),775-780.
MLA 安少辉,et al."BESIII端盖TOF时间分辨的束流测试".高能物理与核物理 .8(2005):775-780.
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