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BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟
其他题名The simulation of the front end electronics system in BESⅢ readout system testing
雷广坤; 王靓; 朱海涛; 初元萍; 朱科军; 赵京伟
2007
发表期刊核电子学与探测技术
期号2页码:250-253
通讯作者雷广坤
其他摘要介绍了BESⅢ读出系统测试与研发中利用MVME2431单板计算机对前端电子学的模拟实现。叙述了BESⅢ前端电子学系统的功能及模拟其系统的目的;着重介绍模拟所采用的技术路线和实现办法,并对电子学模拟的整体性能进行了客观评估。
关键词PowerPC VME BESⅢ 数据获取 读出系统 系统模拟
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/219194
专题实验物理中心
核技术应用研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
雷广坤,王靓,朱海涛,等. BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟[J]. 核电子学与探测技术,2007(2):250-253.
APA 雷广坤,王靓,朱海涛,初元萍,朱科军,&赵京伟.(2007).BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟.核电子学与探测技术(2),250-253.
MLA 雷广坤,et al."BESIII读出系统测试与研发中的前端电子学模拟".核电子学与探测技术 .2(2007):250-253.
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