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塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进
其他题名IMPROVEMENT OF TEMPERATURE CONTROL OF ETCHING BATH FOR PLASTIC TRACK DETECTOR
任国孝
1985
发表期刊核技术
期号4页码:20
通讯作者任国孝
其他摘要塑料径迹探测器的电荷分辨本领决定于材料本身结构的均匀性、蚀刻温度的稳定性、蚀刻液浓度的一致性等。特别在宇宙线实验中,探测器的面积大、数量多,需要大容积的蚀刻槽,有时还需要分批进行蚀刻。所以,蚀刻温度的控制以及槽内温度的分布对于探测器的电荷分辨本领有着重要的影响。塑料径迹探测器的蚀刻速率V与蚀刻温度T有如下关系:
关键词蚀刻槽 控温精度
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218368
专题粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
任国孝. 塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进[J]. 核技术,1985(4):20.
APA 任国孝.(1985).塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进.核技术(4),20.
MLA 任国孝."塑料径迹探测器蚀刻槽控温精度的改进".核技术 .4(1985):20.
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