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CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试
其他题名DETERMINATION OF ETCHING PROPERTIES OF CR-39 PLASTIC TRACK DETECTOR IN DIFFERENT ETCHING CONDITIONS
黄荣庆; 任国孝
1985
发表期刊核技术
期号4页码:3--5
通讯作者黄荣庆
其他摘要用~(252)Cf裂片径迹直径法测定V_g,由α粒子径迹蚀刻曲线的斜率测定V_α,d=V_α/V_g为相对灵敏度。当α粒子的灵敏度低于6MeV时,由α粒子径迹出现时的剥蚀厚度H_o来比较灵敏度。 把两小叠CR-39探测器(图1)用气球携带接受高空原初宇宙线照射。若高能宇宙线粒子在叠内不发生核作用,则应穿过全叠,而且在各片上的游离不变,可用来比较不同蚀刻条件
关键词CR-39塑料 蚀刻 宇宙线
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/218003
专题粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
黄荣庆,任国孝. CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试[J]. 核技术,1985(4):3--5.
APA 黄荣庆,&任国孝.(1985).CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试.核技术(4),3--5.
MLA 黄荣庆,et al."CR-39塑料径迹探测器在不同蚀刻条件下的蚀刻性能测试".核技术 .4(1985):3--5.
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