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用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾-40γ照射量率的逆矩阵法
其他题名A INVERSE MATRIX METHOD FOR MEASURING INDIVIDUAL EXPOSURE RATE FROM 238U SERIES, 232TH SERIES AND 40K OF ENVIRONMENTAL GAMMA RADIATION BY A 100 X 100 NAI(TI) γ SPECTROMETER
汤月里; 朱国义; 岳忠厚; 董振甲
1985
发表期刊辐射防护;
期号6页码:422-428
通讯作者汤月里
其他摘要本文介绍用Φ100×100NaI(Tl)γ谱仪测定地层γ辐射中铀系、钍系和钾-40三种成分各自的照射量率贡献的逆矩阵法。谱仪用标准模型源进行刻度。对不同类型的环境辐射场进行了测量,并与高压电离室的测量值进行了比较,结果在±10%以内符合。文中还对方法的原理、刻度和测量中存在的一些问题进行了讨论。
关键词逆矩阵法 NaI(Tl)γ谱仪 模型源 环境γ辐射 测定
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217851
专题加速器中心
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GB/T 7714
汤月里,朱国义,岳忠厚,等. 用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾-40γ照射量率的逆矩阵法[J]. 辐射防护;,1985(6):422-428.
APA 汤月里,朱国义,岳忠厚,&董振甲.(1985).用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾-40γ照射量率的逆矩阵法.辐射防护;(6),422-428.
MLA 汤月里,et al."用NaI(Tl)γ谱仪测定地层铀系、钍系和钾-40γ照射量率的逆矩阵法".辐射防护; .6(1985):422-428.
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