用NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法
朱国义; 汤月里; 刘树德; 刘曙东
刊名辐射防护
1984
期号4页码:257-264
关键词总潜能量 地层γ照射量率 NaI(Tl)γ谱仪
其他题名TOTAL SPECTRUM ENERGY METHOD FOR MEASURING ENVIRONMENTAL GAMMA EXPOSURE RATE BY Nal(TI) γ SPECTROMETER
通讯作者朱国义
中文摘要本文介绍用 NaI(Tl)γ谱仪测量环境γ照射量率的总谱能量法。谱仪用标准镭源刻度,刻度系数 K_r 为17.82(GeV/20min)/(μR/h),环境γ照射量率测量值的总不确定度约为±9.5%,在玉泉路高能所内外20多个测量点上的测量结果表明,γ谱仪与高气压电离室的测量值较好符合。文中还讨论了用总谱能量法测量环境γ照射量率时的几个有关问题。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217850
专题中国科学院高能物理研究所_加速器中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
朱国义,汤月里,刘树德,等. 用NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法[J]. 辐射防护,1984(4):257-264.
APA 朱国义,汤月里,刘树德,&刘曙东.(1984).用NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法.辐射防护(4),257-264.
MLA 朱国义,et al."用NaI(TI)γ 谱仪测量环境 γ 照射量率的总谱能量法".辐射防护 .4(1984):257-264.
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