非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算
戴建枰; 赵振堂
刊名核技术
2002
期号3页码:167-172
关键词非均匀填充束团 不稳定性 ZAP程序
其他题名Simulation of the longitudinal instabilities of the asymmetric bunches
通讯作者戴建枰
中文摘要为精确计算储存环中高频腔等高Q值元件引起的耦合束不稳定的增长率 ,我们通过分析束团和高频腔高次模的相互作用 ,编制了能计算非均匀填充束团纵向不稳定性增长率的程序———SLIAB程序。在束团均匀分布这种特例情况下 ,该程序与常用的ZAP程序计算得到的结果基本一致。作为一个应用实例 ,本文给出了高能物理研究所BEPC改进方案BEPC -Ⅱ上束腔耦合不稳定性的增长率的计算结果。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217495
专题中国科学院高能物理研究所_加速器中心_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
戴建枰,赵振堂. 非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算[J]. 核技术,2002(3):167-172.
APA 戴建枰,&赵振堂.(2002).非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算.核技术(3),167-172.
MLA 戴建枰,et al."非均匀填充束团纵向不稳定性的模拟计算".核技术 .3(2002):167-172.
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