IHEP OpenIR  > 加速器中心
电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析
其他题名Simulation and Error Analysis of Electro-optic Sampling Measurement of Ultrashort Electron Beam Bunch Length
孙大睿; 徐金强; 唐坤
2008
发表期刊中国物理C
期号S1页码:121-123
通讯作者孙大睿
其他摘要随着高能物理的发展,高能量正负电子对撞机,X射线自由电子激光器,先进的同步光源等,都需要产生高流强超短脉冲的相对论电子束团.于是,亚皮秒电子束束团诊断成为加速器物理新发展的关键技术,电子束长度的监测是其中的一部分.电光采样(EOS)法测量超短电子束团长度有非侵入、非破坏、实时测量的特点,具有较好的应用前景.本文介绍该方法的原理,通过模拟计算分析电子束束团与探测光间距、电子束电场与电光晶体晶轴夹角、探测光偏振方向与电光晶体晶轴夹角等实验参数与束团长度测量的关系,做系统误差分析,对实际实验有指导意义.
关键词电光采样 超短脉冲电子束 束团长度测量
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/217461
专题加速器中心
多学科研究中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孙大睿,徐金强,唐坤. 电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析[J]. 中国物理C,2008(S1):121-123.
APA 孙大睿,徐金强,&唐坤.(2008).电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析.中国物理C(S1),121-123.
MLA 孙大睿,et al."电光采样(EOS)法测量超短电子束束团长度中的模拟计算与误差分析".中国物理C .S1(2008):121-123.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
6853.pdf(1075KB)期刊论文作者接受稿限制开放CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[唐坤]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[唐坤]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[唐坤]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。