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325 MHz spoke腔的二次电子倍增效应
其他题名MULTIPACTING OF 325MHz SPOKE CAVITY FOR ACCELERATOR DRIVEN SUB-CRITICAL SYSTEM
徐波; 李中泉; 沙鹏; 王光伟; 潘卫民; 何源
2012
发表期刊强激光与粒子束
期号11页码:2723-2726
通讯作者徐波
其他摘要采用CST软件的粒子工作室模块,对spoke超导腔中可能发生的二次电子倍增效应进行了分析研究,并采用二次电子倍增效应发生后形成稳定状态时的粒子数增长率来表征其强度。模拟计算表明:该腔存在两处二次电子倍增效应,spoke柱两端的两点一阶倍增;spoke腔两端侧壁与中心圆筒交界处的单点一阶倍增;二次电子倍增在加速腔压为0.65MV时的增长率最高,而腔压大于1 MV时,增长率均为负,即无倍增发生。
关键词二次电子倍增 增长率 spoke腔 二次电子发射系数
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/216988
专题加速器中心
推荐引用方式
GB/T 7714
徐波,李中泉,沙鹏,等. 325 MHz spoke腔的二次电子倍增效应[J]. 强激光与粒子束,2012(11):2723-2726.
APA 徐波,李中泉,沙鹏,王光伟,潘卫民,&何源.(2012).325 MHz spoke腔的二次电子倍增效应.强激光与粒子束(11),2723-2726.
MLA 徐波,et al."325 MHz spoke腔的二次电子倍增效应".强激光与粒子束 .11(2012):2723-2726.
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