IHEP OpenIR  > 院士
Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL
Sun DR(孙大睿); Xu JQ(徐金强); Chen SY(陈森玉)
2010
发表期刊中国物理C
期号2页码:227-230
通讯作者孙大睿
摘要The Electro-optical sampling delay scanning technique can be used for electron beam bunch length measurement.A novel non-synchronous delay scanning technique based on the electro-optical sampling measurements is presented.Based on Beijing Free Electron Laser(BFEL),the electron beam bunch length was ...
关键词electro-optical sampling,measurement of electron beam bunch length,non-synchronous delay scanning technique
资助项目Supported by National Natural Science Foundation of China (10575116)
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215691
专题院士
多学科研究中心
中国科学院高能物理研究所_所办公室
推荐引用方式
GB/T 7714
Sun DR,Xu JQ,Chen SY. Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL[J]. 中国物理C,2010(2):227-230.
APA 孙大睿,徐金强,&陈森玉.(2010).Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL.中国物理C(2),227-230.
MLA 孙大睿,et al."Electro-optical sampling non-synchronous delay scanning measurement of electron beam bunch length at BFEL".中国物理C .2(2010):227-230.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
7459.pdf(557KB)期刊论文作者接受稿开放获取CC BY-NC-SA浏览 请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[陈森玉]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[陈森玉]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[孙大睿]的文章
[徐金强]的文章
[陈森玉]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: 7459.pdf
格式: Adobe PDF
此文件暂不支持浏览
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。