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正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量
王蕴玉; 张天保; 唐孝威
刊名物理学报
1982
期号7页码:945-947
关键词静止质量 精密测量 湮没辐射 γ射线 测量正 相对位置 重复测定 峰位漂移 角关联 高纯铝
其他题名PRECISE MEASUREMENT OF THE POSITRON ANNIHILATION RADIATION IN ALUMINUM
通讯作者王蕴玉
中文摘要用Ge(Li)探测器测量正电子在两种不同来源的铝样品中的湮没辐射,以~181Hf的482keVγ,峰做为基准,重复测定湮没峰与基准峰的相对位置,精密度达到±6eV。结果表明,在两种铝样品中的电子静止质量在10eV水平上是一致的。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215638
专题院士_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
王蕴玉,张天保,唐孝威. 正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量[J]. 物理学报,1982(7):945-947.
APA 王蕴玉,张天保,&唐孝威.(1982).正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量.物理学报(7),945-947.
MLA 王蕴玉,et al."正电子在铝中湮没γ射线能量的精密测量".物理学报 .7(1982):945-947.
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