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低本底γ谱仪的本底参数测量
宋绍仪; 李焕铁; 吕军光; 唐孝威
刊名核科学与工程
1982
期号1页码:94-97
关键词γ谱仪 低本底 γ能谱 原子能研究所 脉冲幅度 γ射线 选择条件 测量条件 中国科学院 全能峰
其他题名MEASUREMENT OF BACKGROUND PARAMETERS ON LOW BACKGROUND γ-RAY SPECTROMETER
中文摘要反符合屏蔽NaI(TI)γ谱仪是进行低本底γ能谱测量的重要仪器,中国科学院原子能研究所建造的一台谱仪已在文[1]中报导。为了进一步了解这台谱仪中本底的来源,我们测量了不同工条件下的本底计数,包括改变谱仪中脉冲幅度选择条件和符合反符合逻辑组合,以及在谱仪内加入吸收片等。实验测量装置如图1所示,通过开关K_1可以使上晶体(φ80×80mm)处于符合或反符合、用或不用的状态;通过K_2使环晶体(φ外200,φ内100,h300mm)处于反符合或不用的状态,而由主晶体(φ75×75mm)进行γ射线的分
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215611
专题院士_期刊论文
中国科学院高能物理研究所_粒子天体物理中心
推荐引用方式
GB/T 7714
宋绍仪,李焕铁,吕军光,等. 低本底γ谱仪的本底参数测量[J]. 核科学与工程,1982(1):94-97.
APA 宋绍仪,李焕铁,吕军光,&唐孝威.(1982).低本底γ谱仪的本底参数测量.核科学与工程(1),94-97.
MLA 宋绍仪,et al."低本底γ谱仪的本底参数测量".核科学与工程 .1(1982):94-97.
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