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X射线荧光层析
干慧菁; 高鸿奕; 朱化凤; 陈建文; 朱佩平; 冼鼎昌
刊名激光与光电子学进展
2006
期号3页码:56-64
关键词X射线 荧光 荧光层析 重建算法
其他题名X-RAY FLUORESCENCE TOMOGRAPHY
中文摘要X射线荧光层析技术是利用内壳层电子跃迁所发出荧光辐射,来测定样品中的元素含量,获取样品内部的结构信息。Wolter型掠入射镜装置的元素灵敏度可以达到106个原子/cm3,空间分辨率达到微米量级。结合康普顿散射和吸收层析进行成像可使其图像质量得到进一步的提高。而当获得了物体的投影数据以后,可采用各种重建算法来使物体得以准确重现。介绍了几种常用的重建算法,并就其特点进行了比较。
所属项目名称国家自然科学基金(No.60278030) ; 上海光科技基金(No.036105028)资助。
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215610
专题院士_期刊论文
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GB/T 7714
干慧菁,高鸿奕,朱化凤,等. X射线荧光层析[J]. 激光与光电子学进展,2006(3):56-64.
APA 干慧菁,高鸿奕,朱化凤,陈建文,朱佩平,&冼鼎昌.(2006).X射线荧光层析.激光与光电子学进展(3),56-64.
MLA 干慧菁,et al."X射线荧光层析".激光与光电子学进展 .3(2006):56-64.
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