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同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用
其他题名DEVELOPMENT OF SYNCHROTRON RADIATION X-RAY GRAZING INCIDENT DIFFRACTION METHOD
姜晓明; 贾全杰; 郑文莉; 刘鹏(多); 冼鼎昌; 蒋最敏; 王迅
2000
发表期刊高能物理与核物理
期号12页码:1185-1190
通讯作者姜晓明
其他摘要利用北京同步辐射装置漫散射实验站的五圆衍射仪,建立了掠入射X射线衍射实验方法.对Si表面生长的Ge/Si量子点及其在Si表层产生的应变进行了成功测量,表明此方法可以有效地提取表面层的微弱信号.实验结果表明,Ge/Si量子点的形成除了在Si衬底表层形成了晶格具有横向膨胀应变的区域之外,还在Si衬底中形成了具有横向压缩应变的区域.
关键词掠入射衍射 表层结构 量子点 微弱信号
资助项目国家自然科学基金资助!(19834050)
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/215390
专题院士
中国科学院高能物理研究所_人力资源处
推荐引用方式
GB/T 7714
姜晓明,贾全杰,郑文莉,等. 同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用[J]. 高能物理与核物理,2000(12):1185-1190.
APA 姜晓明.,贾全杰.,郑文莉.,刘鹏.,冼鼎昌.,...&王迅.(2000).同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用.高能物理与核物理(12),1185-1190.
MLA 姜晓明,et al."同步辐射X射线掠入射衍射实验技术及应用".高能物理与核物理 .12(2000):1185-1190.
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